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干法激光粒度分析儀

更新日期:2024-10-26

簡要描述:

干法激光粒度分析儀是一種用于測量和分析固體顆粒粒度的精密儀器,廣泛應用于制藥、化工、材料科學、環境監測等多個領域。

型號:HD-JL800G點擊量:246

干法激光粒度分析儀利用激光散射原理來測量顆粒的粒度分布。當激光束照射到顆粒表面時,會發生散射現象,散射光的強度和分布與顆粒的大小、形狀及折射率等參數有關。通過測量散射光的分布,可以反推出顆粒的粒度分布信息。

產品特點:
非接觸式測量:干法測量過程中,樣品無需與液體接觸,避免了濕法測量中可能產生的顆粒團聚、溶解或化學反應等問題,保證了測量結果的準確性。
自動化程度高:全自動激光粒度分析儀集成了的自動化控制系統,能夠實現樣品的自動進樣、測量和數據分析,大大提高了工作效率。
測量范圍廣:根據不同的型號和配置,測量范圍可覆蓋從納米級到毫米級的顆粒粒度。
結果準確可靠:采用高精度的激光光源和探測器,結合的算法和數據處理技術,確保了測量結果的準確性和可靠性。

產品參數:
測量原理:全量程激光衍射;
粒徑范圍:0.1um~800um(全量程測試);
探測系統:76通道均勻交叉及面積補償多方位陣列;
激光器:進口大功率光纖輸出半導體激光器,波長635nm、功率最大20mw;
光學模型:全量程米氏散射理論,包含高濃度多重散射動態補償技術;
濾波方式:三鏡頭技術,正.反傅里葉變換鏡頭+濾波鏡頭;
采集主板:16bit,200kps超高速采集主板,全新一代同時采集主板;
濃度范圍:遮光度3%,最高遮光度90%(光學濃度);
鏡頭:特殊鍍膜工藝處理,光信號透過率>99.7%;
光學對中系統:機械中心+光學中心雙定位全自動對中系統;
測量時間:典型值<10秒;
測量精度:準確性、重復性Dv50均優于±0.5%(NIST可溯源標準樣品);
測量方式:全自動測量
環境溫度:0°c~45°C;
環境濕度:10%~-85%相對濕度(無結凝);
電源要求:110V~240V(±20V),5OHz~60Hz;
執行標準:GB/T19077-2016/ISO13320:2009;
外觀尺寸:700mm×495mm×300mm;
儀器重量:35kg。

適用范圍:
干法激光粒度分析儀廣泛應用于各種金屬、非金屬粉︰如重鈣、輕鈣、高嶺土、石墨、硅灰石、水鎂石、重晶石、云母粉、膨潤土、硅藻土、黏土、二氧化硅、石榴石、硅酸錯、氧化錯、氧化鎂、氧化鋅、河流泥沙、鋰電池材料、催化劑、熒光粉、水泥、磨料、醫藥、農藥、食品、涂料、染料、陶瓷原料、化工材料、納米材料、造紙填料涂料、各種粉末類樣品。

應用領域:
材料科學:用于研究材料的顆粒大小分布、形貌特征等,為材料的制備和性能優化提供重要依據。
制藥行業:用于藥物顆粒的粒度分析,確保藥物的質量和療效。
食品工業:用于食品顆粒的粒度檢測,如奶粉、調味品等,保證產品的口感和品質。
環境科學:用于監測水體、大氣中的顆粒物濃度和分布,評估環境污染狀況。


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